黑盒測(cè)試有哪些具體歷程及優(yōu)缺點(diǎn)
黑盒測(cè)試有哪些具體歷程及優(yōu)缺點(diǎn)
黑盒測(cè)試是通過測(cè)試來檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。運(yùn)動(dòng)黑盒測(cè)試也存在著優(yōu)缺點(diǎn)。以下是由學(xué)習(xí)啦小編整理的黑盒測(cè)試的內(nèi)容，希望大家喜歡!
黑盒測(cè)試的介紹
黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試，在測(cè)試中，把程序看作一個(gè)不能打開的黑盒子，在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特性的情況下，在程序接口進(jìn)行測(cè)試，它只檢查程序功能是否按照需求規(guī)格說明書的規(guī)定正常使用，程序是否能適當(dāng)?shù)亟邮蛰斎霐?shù)據(jù)而產(chǎn)生正確的輸出信息。黑盒測(cè)試著眼于程序外部結(jié)構(gòu)，不考慮內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)，主要針對(duì)軟件界面和軟件功能進(jìn)行測(cè)試。
黑盒測(cè)試是以用戶的角度，從輸入數(shù)據(jù)與輸出數(shù)據(jù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系出發(fā)進(jìn)行測(cè)試的。很明顯，如果外部特性本身設(shè)計(jì)有問題或規(guī)格說明的規(guī)定有誤，用黑盒測(cè)試方法是發(fā)現(xiàn)不了的。
黑盒測(cè)試的作用
黑盒測(cè)試法注重于測(cè)試軟件的功能需求，主要試圖發(fā)現(xiàn)下列幾類錯(cuò)誤。
功能不正確或遺漏;
界面錯(cuò)誤;
輸入和輸出錯(cuò)誤;
數(shù)據(jù)庫訪問錯(cuò)誤;
性能錯(cuò)誤;
初始化和終止錯(cuò)誤等。
黑盒測(cè)試的流程
測(cè)試計(jì)劃
首先，根據(jù)用戶需求報(bào)告中關(guān)于功能要求和性能指標(biāo)的規(guī)格說明書，定義相應(yīng)的測(cè)試需求報(bào)告，即制訂黑盒測(cè)試的最高標(biāo)準(zhǔn)，以后所有的測(cè)試工作都將圍繞著測(cè)試需求來進(jìn)行，符合測(cè)試需求的應(yīng)用程序即是合格的，反之即是不合格的;同時(shí)，還要適當(dāng)選擇測(cè)試內(nèi)容，合理安排測(cè)試人員、測(cè)試時(shí)間及測(cè)試資源等。
測(cè)試設(shè)計(jì)
將測(cè)試計(jì)劃階段制訂的測(cè)試需求分解、細(xì)化為若干個(gè)可執(zhí)行的測(cè)試過程，并為每個(gè)測(cè)試過程選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)試用例(測(cè)試用例選擇的好壞將直接影響到測(cè)試結(jié)果的有效性)。
測(cè)試開發(fā)
建立可重復(fù)使用的自動(dòng)測(cè)試過程。
測(cè)試執(zhí)行
執(zhí)行測(cè)試開發(fā)階段建立的自動(dòng)測(cè)試過程，并對(duì)所發(fā)現(xiàn)的缺陷進(jìn)行跟蹤管理。測(cè)試執(zhí)行一般由單元測(cè)試、組合測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)聯(lián)調(diào)及回歸測(cè)試等步驟組成，測(cè)試人員應(yīng)本著科學(xué)負(fù)責(zé)的態(tài)度，一步一個(gè)腳印地進(jìn)行測(cè)試。
測(cè)試評(píng)估
結(jié)合量化的測(cè)試覆蓋域及缺陷跟蹤報(bào)告，對(duì)于應(yīng)用軟件的質(zhì)量和開發(fā)團(tuán)隊(duì)的工作進(jìn)度及工作效率進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)。
黑盒測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1. 基本上不用人管著，如果程序停止運(yùn)行了一般就是被測(cè)試程序crash了
2. 設(shè)計(jì)完測(cè)試用例之后，下來的工作就是爽了，當(dāng)然更苦悶的是確定crash原因
黑盒測(cè)試的缺點(diǎn)
1. 結(jié)果取決于測(cè)試用例的設(shè)計(jì)，測(cè)試用例的設(shè)計(jì)部分優(yōu)勢(shì)來源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒
2. 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對(duì)PDU來做的，還做不到針對(duì)被測(cè)試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來實(shí)現(xiàn)
3. 就沒有狀態(tài)概念的測(cè)試來說，尋找和確定造成程序crash的測(cè)試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周圍可能的測(cè)試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測(cè)試來說，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。
黑盒測(cè)試的缺點(diǎn)
1. 結(jié)果取決于測(cè)試用例的設(shè)計(jì)，測(cè)試用例的設(shè)計(jì)部分優(yōu)勢(shì)來源于經(jīng)驗(yàn)，OUSPG的東西很值得借鑒
2. 沒有狀態(tài)轉(zhuǎn)換的概念，一些成功的例子基本上都是針對(duì)PDU來做的，還做不到針對(duì)被測(cè)試程序的狀態(tài)轉(zhuǎn)換來實(shí)現(xiàn)
3. 就沒有狀態(tài)概念的測(cè)試來說，尋找和確定造成程序crash的測(cè)試?yán)莻€(gè)麻煩事情，必須把周圍可能的測(cè)試?yán)龁为?dú)確認(rèn)一遍。而就有狀態(tài)的測(cè)試來說，就更麻煩了，尤其不是一個(gè)單獨(dú)的testcase造成的問題。這些在堆的問題中表現(xiàn)的更為突出。
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