硬盤(pán)低格能修復(fù)扇區(qū)嗎
硬盤(pán)低格能修復(fù)扇區(qū)嗎
多磁頭技術(shù)：通過(guò)在同一碟片上增加多個(gè)磁頭同時(shí)的讀或?qū)憗?lái)為硬盤(pán)提速，或同時(shí)在多碟片同時(shí)利用磁頭來(lái)讀或?qū)憗?lái)為磁盤(pán)提速，多用于服務(wù)器和數(shù)據(jù)庫(kù)中心。下面是學(xué)習(xí)啦小編帶來(lái)的關(guān)于硬盤(pán)低格能修復(fù)扇區(qū)嗎的內(nèi)容，歡迎閱讀!
硬盤(pán)低格能修復(fù)扇區(qū)嗎?
可以在一定程度上修復(fù)。
1、對(duì)于硬盤(pán)上出現(xiàn)邏輯壞道或者軟性物理壞道，邏輯壞道在低格時(shí)自動(dòng)被修復(fù)，軟性物理壞道被屏蔽，即實(shí)現(xiàn)隱藏。
2、低格硬盤(pán)能把原來(lái)硬盤(pán)內(nèi)所有分區(qū)都刪除，但壞道卻依然存在，屏蔽只是將壞道隱藏起來(lái)，不讓用戶在存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí)使用這些壞道，這樣能在一定程度上保證用戶數(shù)據(jù)的可靠性，但壞道卻會(huì)隨著硬盤(pán)分區(qū)、格式化次數(shù)的增長(zhǎng)而擴(kuò)散蔓延。
低格硬盤(pán)是很危險(xiǎn)的操作
硬盤(pán)的低級(jí)格式化過(guò)程主要是對(duì)硬盤(pán)做了以下幾項(xiàng)工作。
1、對(duì)扇區(qū)清零和重寫(xiě)校驗(yàn)值。低格過(guò)程中將每個(gè)扇區(qū)的所有字節(jié)全部置零，并將每個(gè)扇區(qū)的校驗(yàn)值也寫(xiě)回初始值，這樣可以將部分缺陷糾正過(guò)來(lái)。譬如，由于扇區(qū)數(shù)據(jù)與該扇區(qū)的校驗(yàn)值不對(duì)應(yīng)，通常就被報(bào)告為校驗(yàn)錯(cuò)誤(ECC Error)。如果并非由于磁介質(zhì)損傷，清零后就很有可能將扇區(qū)數(shù)據(jù)與該扇區(qū)的校驗(yàn)值重新對(duì)應(yīng)起來(lái)，而達(dá)到“修復(fù)”該扇區(qū)的功效。這是每種低格工具和每種硬盤(pán)的低格過(guò)程最基本的操作內(nèi)容，同時(shí)這也是為什么通過(guò)低格能“修復(fù)大量壞道”的基本原因。另外，DM中的Zero Fill(清零)操作與IBM DFT工具中的Erase操作，也有同樣的功效。
2、對(duì)扇區(qū)進(jìn)行讀寫(xiě)檢查，并嘗試替換缺陷扇區(qū)。有些低格工具會(huì)對(duì)每個(gè)扇區(qū)進(jìn)行讀寫(xiě)檢查，如果發(fā)現(xiàn)在讀過(guò)程或?qū)戇^(guò)程出錯(cuò)，就認(rèn)為該扇區(qū)為缺陷扇區(qū)。然后，調(diào)用通用的自動(dòng)替換扇區(qū)(Automatic reallocation sector)指令，嘗試對(duì)該扇區(qū)進(jìn)行替換，也可以達(dá)到“修復(fù)”的功效。
3、對(duì)扇區(qū)的標(biāo)識(shí)信息重寫(xiě)。在多年以前使用的老式硬盤(pán)(如采用ST506接口的硬盤(pán))，需要在低格過(guò)程中重寫(xiě)每個(gè)扇區(qū)的標(biāo)識(shí)(ID)信息和某些保留磁道的其他一些信息，當(dāng)時(shí)低格工具都必須有這樣的功能。但現(xiàn)在的硬盤(pán)結(jié)構(gòu)已經(jīng)大不一樣，如果再使用多年前的工具來(lái)做低格會(huì)導(dǎo)致許多令人痛苦的意外。難怪經(jīng)常有人在痛苦地高呼：“危險(xiǎn)!切勿低格硬盤(pán)!我的硬盤(pán)已經(jīng)毀于低格!”
4、對(duì)所有物理扇區(qū)進(jìn)行重新編號(hào)。編號(hào)的依據(jù)是P-list中的記錄及區(qū)段分配參數(shù)(該參數(shù)決定各個(gè)磁道劃分的扇區(qū)數(shù))，經(jīng)過(guò)編號(hào)后，每個(gè)扇區(qū)都分配到一個(gè)特定的標(biāo)識(shí)信息(ID)。編號(hào)時(shí)，會(huì)自動(dòng)跳過(guò)P-list中所記錄的缺陷扇區(qū)，使用戶無(wú)法訪問(wèn)到那些缺陷扇區(qū)(用戶不必在乎永遠(yuǎn)用不到的地方的好壞)。如果這個(gè)過(guò)程半途而廢，有可能導(dǎo)致部分甚至所有扇區(qū)被報(bào)告為標(biāo)識(shí)不對(duì)(Sector ID not found, IDNF)。要特別注意的是，這個(gè)編號(hào)過(guò)程是根據(jù)真正的物理參數(shù)來(lái)進(jìn)行的，如果某些低格工具按邏輯參數(shù)(以 16heads 63sector為最典型)來(lái)進(jìn)行低格，是不可能進(jìn)行這樣的操作。
5、寫(xiě)磁道伺服信息，對(duì)所有磁道進(jìn)行重新編號(hào)。有些硬盤(pán)允許將每個(gè)磁道的伺服信息重寫(xiě)，并給磁道重新賦予一個(gè)編號(hào)。編號(hào)依據(jù)P-list或TS記錄來(lái)跳過(guò)缺陷磁道(defect track),使用戶無(wú)法訪問(wèn)(即永遠(yuǎn)不必使用)這些缺陷磁道。這個(gè)操作也是根據(jù)真正的物理參數(shù)來(lái)進(jìn)行。
6、寫(xiě)狀態(tài)參數(shù)，并修改特定參數(shù)。有些硬盤(pán)會(huì)有一個(gè)狀態(tài)參數(shù)，記錄著低格過(guò)程是否正常結(jié)束，如果不是正常結(jié)束低格，會(huì)導(dǎo)致整個(gè)硬盤(pán)拒絕讀寫(xiě)操作，這個(gè)參數(shù)以富士通IDE硬盤(pán)和希捷SCSI硬盤(pán)為典型。有些硬盤(pán)還可能根據(jù)低格過(guò)程的記錄改寫(xiě)某些參數(shù)。
我們經(jīng)常使用的DM中的Low level format命令進(jìn)行的低級(jí)格式化操作，主要進(jìn)行了第1條和第3條的操作。速度較快，極少損壞硬盤(pán)，但修復(fù)效果不明顯。另外在Lformat工具中，進(jìn)行了前三項(xiàng)的操作。由于同時(shí)進(jìn)行了讀寫(xiě)檢查，操作速度較慢，可以替換部分缺陷扇區(qū)
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