光電測試技術(shù)論文(2)
光電測試技術(shù)論文
光電測試技術(shù)論文篇二
納米光電測控技術(shù)研究
[摘 要] 納米技術(shù)的發(fā)展使得人來在改造自然方面進(jìn)入了一個(gè)新的層次,作為一項(xiàng)面向21世紀(jì)的高新技術(shù),對國民生活和軍事技術(shù)帶來巨大的改變。納米技術(shù)的發(fā)展和機(jī)械加工行業(yè)精度水平的提高必須以超高精度的納米測控技術(shù)的發(fā)展作為基礎(chǔ)和先導(dǎo)。本文詳細(xì)介紹了納米光電測控技術(shù)的研究現(xiàn)狀與發(fā)展趨勢。
[關(guān)鍵詞]納米 光電 測控技術(shù)
納米科學(xué)與技術(shù),有時(shí)簡稱為納米技術(shù),是研究結(jié)構(gòu)尺寸在0.1至100納米范圍內(nèi)材料的性質(zhì)和應(yīng)用。它主要包括納米材料、納米動力學(xué)、納米生物學(xué)和納米藥物學(xué)、納米電子學(xué)等四個(gè)方面。納米級材料工程是指用于納米技術(shù)的材料開發(fā),主要應(yīng)用于功能織物、醫(yī)學(xué)生物工程、電子工業(yè)、催化劑、超微傳感器等幾個(gè)方面。納米級加工技術(shù)納米加工技術(shù)在納米技術(shù)的各領(lǐng)域也起著關(guān)鍵作用,包含機(jī)械加工、能量束加工、化學(xué)腐蝕以及掃描隧道顯微鏡加工等許多方法。然而,納米級的測控技術(shù)是制約納米技術(shù)發(fā)展的關(guān)鍵。
我國測控領(lǐng)域的科研人員經(jīng)過四十多年長期探索,不斷研究,克服了各種困難,利用光、機(jī)、電、算多學(xué)科綜合,發(fā)展了一整套微/納米光電測控新技術(shù),研制出新一代測控儀器,已經(jīng)成功地應(yīng)用于軍用、民用很多領(lǐng)域,取得了明顯效果。
一、納米光電測控技術(shù)
納米光電測控技術(shù)以納米計(jì)量光柵為核心元件,配以光電轉(zhuǎn)換、信號讀取、信號處理以及超精機(jī)械,形成各種測量儀器,可直接用于測量或控制長度、位移等多種幾何量。具有測量精度高、量程大、環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)、穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。該項(xiàng)技術(shù)主要由傳感器和數(shù)顯裝置兩部分組成。利用該項(xiàng)技術(shù)所生產(chǎn)的產(chǎn)品具有自動求最大值、最小值、峰峰值、公英制轉(zhuǎn)換、置數(shù)、打印、復(fù)位、自檢等功能,同時(shí)還具有RS232串行通訊接口,與計(jì)算機(jī)、單片機(jī)等連接后可進(jìn)行自動測量、自動數(shù)據(jù)處理和自動控制等優(yōu)點(diǎn)。納米測控技術(shù)包括納米級的測量技術(shù)和納米級的定位控制技術(shù)兩個(gè)方面。
1.納米測量技術(shù)
目前,納米級測量技術(shù)的主要發(fā)展方向有光干涉測量技術(shù)和掃描顯微技術(shù)等,以表面粗糙度和表面形貌等為測量對象。
(1) 光外差干涉儀
光外差探測是一種對光波振幅、頻率和相位調(diào)制信號的檢波方法,可以對于光強(qiáng)度調(diào)制信號。光外差干涉儀是使用兩種不同頻率的單色光作為測量光束和參考光束,通過光電探測器的混頻,輸出差頻信號(受光電探測器頻響的限制,頻差一般在100兆赫以內(nèi))的儀器。被測物體的變化如位移、振動、轉(zhuǎn)動、大氣擾動等引起的光波相位變化或多普勒頻移載于此差頻上,經(jīng)解調(diào)即可獲得被測數(shù)據(jù)的儀器。目前,通常使用的干涉條紋圖的測量方法,在進(jìn)行納米級測量時(shí)有非常大的局限性。因此利用外差干涉測量技術(shù),可以得到0。1nm的空間分辨率,測量范圍可達(dá)50mm,促進(jìn)了納米技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展。
(2) X射線干涉儀
X射線干涉儀以非常穩(wěn)定的單晶硅晶格作為長度單位,可以實(shí)現(xiàn)亞納米精度的微位移測量。
可見光和縈外光的干涉條紋間距為數(shù)百納米,這種間距不易測量。而利用射線的超短波長干涉測量技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)0。005nm分辨率的位移測量,測量范圍可達(dá)200μm,是一種測量范圍大較易實(shí)現(xiàn)的納米級測量方法。近年來,又產(chǎn)生了X射線形貌測量儀,它采用掠人射角的射線來測量超光滑表面形貌。
(3) 激光頻率分裂測長
激光頻率分裂的值與分裂元件的位移有關(guān)。通過測頻率測位移,精度已達(dá)到1nm,進(jìn)一步穩(wěn)定激光頻率可達(dá)到0.01nm,測量范圍為150μm。
(4) 掃描探針顯微(SPM)技術(shù)
SPM實(shí)際上是一個(gè)很大的家族,它包括掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡、磁力顯微鏡、激光力顯微鏡、光子掃描隧道顯微鏡及掃描近場光學(xué)顯微鏡等等,利用它們可以用來測量非導(dǎo)體、磁性物質(zhì),甚至有機(jī)生物體的納米級表面。
掃描探針顯微(SPM)技術(shù)是在掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)明取得巨大成就的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型顯微鏡。它們的原理都是通過檢測一個(gè)非常微小的探針(磁探針、靜電力探針、電流探針、力探針),與被測表面進(jìn)行不接觸各種相互作用(電的相互作用、磁的相互作用、力的相互作用等),借助納米級的三維位移定位控制系統(tǒng),測出該表面的三維微觀立體形貌,在納米級的尺度上研究各種物質(zhì)表面的結(jié)構(gòu)以及各種相關(guān)的性質(zhì)。
掃描探針顯微技術(shù)(SPM)具有以下特點(diǎn):(1)具有原子級的高分辨率。STM的橫向分辨率可達(dá)到0.1nm,垂直表面方向分辨率可達(dá)0.01nm,這是目前所有顯微技術(shù)當(dāng)中分辨率最高的。(2)可以觀察單個(gè)原子層的局部表面結(jié)構(gòu)。STM觀察的是表面的一個(gè)或兩個(gè)原子層,即幾個(gè)納米的局域信息,而不是像光學(xué)顯微鏡和電子束顯微鏡只能獲得平均信息。(3) STM配合掃描隧道譜(STS),可以得到表面電子結(jié)構(gòu)的有關(guān)信息,可以通過調(diào)節(jié)隧道結(jié)偏壓來觀察不同位置電子態(tài)密度分布,觀察電荷轉(zhuǎn)移的情況,還可以得到電子結(jié)構(gòu)的信息。(4)STM可以實(shí)時(shí)、實(shí)空間地觀察表面的三維圖像。而不像其他,例如各種衍射方法所得到的只是倒易空間的圖像,不是實(shí)空間的,而且只有進(jìn)行 “傅里葉變換”才能得到實(shí)空間圖像。(5) STM可以在不同條件下工作,例如真空、大氣、常溫、低溫、高溫、熔溫,不需要特別的制樣技術(shù),而且探測過程對樣品無損傷,因而擴(kuò)展了研究對象的范圍。(6) STM不僅可用于成像,還可以對表面的原子、吸附的原子或分子進(jìn)行操縱,從而進(jìn)行納米級加工,這是其他技術(shù)所不具備的一種功能。
2. 納米定位控制技術(shù)
在納米級加工與測量中,需要納米級的三維定位與控制。目前,用一個(gè)執(zhí)行元件來實(shí)現(xiàn)大范圍的納米級定位是比較困難的。因此,實(shí)際的定位機(jī)構(gòu)多采用大位移用的執(zhí)行元件和納米級定位用的執(zhí)行元件相結(jié)合方式來實(shí)現(xiàn)。實(shí)現(xiàn)三維定位與控制,目前普遍采用壓電陶瓷致動器件,它在納米級的極小范圍內(nèi),通過控制系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)近似的三維驅(qū)動。此外,利用電致材料、靜電或磁軸承式結(jié)構(gòu),以及靜電致動的高精度定位控制技術(shù),也向納米級精度發(fā)展,也可采用摩擦驅(qū)動裝置及絲杠定位元件,通過特殊的方法進(jìn)行納米級的定位。
二、納米光電測控技術(shù)特點(diǎn)
光電測控技術(shù)采用的光電自動測量方法是為適應(yīng)我國高速發(fā)展的測控領(lǐng)域的現(xiàn)狀而逐步研究、開發(fā)形成的,并以其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)逐步成為當(dāng)今世界范圍內(nèi)的一種新型、高精度的測試手段。它采用現(xiàn)代高科技手段,測試精度涵蓋了微米、亞納米及納米領(lǐng)域。
這種新型測控技術(shù),具有許多重要的特點(diǎn):
(1)首先,它的應(yīng)用覆蓋面特別寬,既可用于微米、亞微米量級,也可用于納米量級;既可用于傳統(tǒng)機(jī)械、傳統(tǒng)儀器的更新改造,又可用于尖端科技的高層突破;
(2)其次,技術(shù)上綜合性很強(qiáng),光、機(jī)、電、算容為一體,具備了純機(jī)械、純電學(xué)、純光學(xué)等傳統(tǒng)測量技術(shù)很難達(dá)到的優(yōu)越性;
(3)再次,它的應(yīng)用范圍特別寬廣,軍用上,如常規(guī)武器的改造提高;航空航天的各種測控等;民用上,傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)上的更新改造、制造業(yè)的技術(shù)提高等。
三、最近研究成果
目前世界上已出現(xiàn)了一些能達(dá)到納米量級的測量儀器,但在測量范圍和實(shí)用性上尚不能完全滿足實(shí)際要求。中國青旅實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司所屬標(biāo)普納米測控技術(shù)有限公司開發(fā)的兩項(xiàng)科技成果在很大程度上彌補(bǔ)了這一領(lǐng)域存在的不足,對微/納米測控技術(shù)和相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展起到了促進(jìn)作用。這不僅表明我國微/納米光電測控技術(shù)處于世界領(lǐng)先水平,而且對解決目前制約我國高新技術(shù)、傳統(tǒng)制造業(yè)發(fā)展及新材料研制過程中的計(jì)量問題,推動世界精密計(jì)量儀器的升級換代也具有重要意義,同時(shí)標(biāo)志著世界微/納米測控技術(shù)向更精微邁進(jìn)了重要一步。
“納米測長儀”是一種通用長度傳感器,它的研制成功表明長度通用量具已經(jīng)提高到了納米量級,并且從靜態(tài)人工讀數(shù)發(fā)展到數(shù)字化自動顯示。其數(shù)顯分辨率達(dá)到1納米,測量重復(fù)性(標(biāo)準(zhǔn)偏差)為0.8-1.2nm,在未作誤差修正的前提下,10mm測量范圍內(nèi)示值誤差優(yōu)于±0.06μm。與國際上同類儀器相比,它在分辨率、重復(fù)性、準(zhǔn)確度和短時(shí)穩(wěn)定性等主要技術(shù)指標(biāo)上,都處于國際領(lǐng)先水平。它用途廣泛,技術(shù)獨(dú)特,生產(chǎn)成本遠(yuǎn)低于國外同類產(chǎn)品,推廣應(yīng)用前景廣闊。
“量塊快速檢測儀”是一種新型的量塊檢測儀器,它成功的將納米測長儀應(yīng)用到量塊檢測上,將直接測量與比較測量結(jié)合起來,對名義尺寸10mm及10mm以下的量塊實(shí)現(xiàn)了直接測量。該儀器測量分辨率達(dá)到1nm,直接測量范圍10mm,比較測量范圍110mm,與國外同類儀器相比,主要技術(shù)指標(biāo)達(dá)到了國際先進(jìn)水平。該儀器還可以與計(jì)算機(jī)連接通訊,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)自動處理,從而提高了量塊檢驗(yàn)速度,減輕了檢測人員的勞動強(qiáng)度。由于其對環(huán)境溫度不敏感,現(xiàn)有基層計(jì)量室不必提高溫控要求即可推廣使用。該儀器經(jīng)濟(jì)實(shí)用,適合基層計(jì)量室檢測三等及三等以下量塊。該科技成果在納米光柵的制造與檢測、納米光柵的信號讀取、光電信號的高質(zhì)量處理和超精機(jī)構(gòu)的加工改進(jìn)等四方面均具有獨(dú)創(chuàng)性,集光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)多學(xué)科于一體,開發(fā)難度大。國內(nèi)外多家科研單位曾致力于該種儀器的研究,但都沒能取得突破性進(jìn)展。
四、結(jié)論與建議
納米光電測控技術(shù)的應(yīng)用,將極大地促進(jìn)我國新材料技術(shù)的研發(fā),對于各種新型材料的加工、檢測及生產(chǎn)高精度新型材料的機(jī)械設(shè)備的制造等都有著舉足輕重的意義。同時(shí),納米光電測控技術(shù)解決了當(dāng)代高新技術(shù)發(fā)展在測控方面面臨的十分棘手的難題,具有劃時(shí)代的意義。
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