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光電成像技術(shù)論文(2)

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  光電成像技術(shù)論文篇二

  光電成像系統(tǒng)的性能優(yōu)化

  摘 要:在光電成像系統(tǒng)的設(shè)計中,對其性能進行優(yōu)化,可以提升成像系統(tǒng)的分辨率。本文主要對光電系統(tǒng)的性能優(yōu)化、系統(tǒng)誤差、平均函數(shù)和信噪比進行探討,以期設(shè)計師在設(shè)計光電成像系統(tǒng)的過程中,可以根據(jù)實際情況來選取合理的優(yōu)化措施。

  關(guān)鍵詞:光電成像;性能優(yōu)化;光學設(shè)計

  前言:對光電成像系統(tǒng)性能的評價主要涉及光學系統(tǒng)和光電成像系統(tǒng)的優(yōu)化。在對光電成像系統(tǒng)的優(yōu)化過程中,涉及材料、機械和電子等多門學科。隨著科技的不斷發(fā)展,陣列探測器更新?lián)Q代的速度相對較快,為了滿足陣列探測器的發(fā)展需求,加強對光電成像系統(tǒng)的研究,并且對其進行性能優(yōu)化具有重要的價值。

  1.對光電成像系統(tǒng)的性能優(yōu)化

  對光電成像系統(tǒng)的性能優(yōu)化目標主要是對光學和電學內(nèi)容進行設(shè)計,并且提升光電成像系統(tǒng)的性能,同時降低系統(tǒng)的制作成本。在光電成像系統(tǒng)中,探測器的性能主要是由電荷擴散、幾何尺寸和位相時鐘等因素決定。在使用的過程中,探測器的性能同樣受到環(huán)境、運輸和溫度等因素的影響。

  在設(shè)計師對光學系統(tǒng)進行設(shè)計時,要根據(jù)成像倍率和瞬時視場角來決定光學系統(tǒng)的焦距;并且要根據(jù)信噪比來設(shè)計孔徑;同時要根據(jù)尺寸來設(shè)計相應(yīng)的視場角;另外,要根據(jù)使用換環(huán)境和加工難度來設(shè)計相應(yīng)的傳遞函數(shù)余量。在理想的光學系統(tǒng)設(shè)計中,艾里斑直徑為2.44λF,光學系統(tǒng)函數(shù)的截止頻率為1/λF,探測器函數(shù)的截止頻率為1/d,當艾里斑直徑為1個像元時,艾里斑直徑為d,光學函數(shù)截止頻率為2.44/d。但是當艾里斑為一個像元時,系統(tǒng)明顯的缺乏采樣,繼而會導致探測器受到一定程度的限制。當系統(tǒng)傳遞相應(yīng)的頻譜時,將會導致成像失真[1]。

  針對系統(tǒng)成像的失真問題,設(shè)計師在設(shè)計系統(tǒng)的過程中,可以采用增加空間采樣頻率的方式來提升系統(tǒng)的分辨率。其主要體現(xiàn)在以下幾個方面:第一,當系統(tǒng)的艾里斑直徑為2個像元時,系統(tǒng)同樣欠缺采樣,這種設(shè)計方式主要應(yīng)用于航空相機和空間相機,其傳遞函數(shù)相比于設(shè)計值較低。第二,當艾里斑函數(shù)為3個像元時,光電系統(tǒng)的傳遞函數(shù)較為容易達到0.1,其一般應(yīng)用于中小型的光電成像系統(tǒng)。第三,當艾里斑函數(shù)為4個像元時,光電系統(tǒng)的分辨率相對較高,適用于實驗室等設(shè)計環(huán)境。由此可見,在光電成像系統(tǒng)的性能優(yōu)化設(shè)計中,增加系統(tǒng)空間采樣頻率的方式可以較好的提升系統(tǒng)的分辨率,進而可以達到光電系統(tǒng)的使用性能[2]。

  2 系統(tǒng)誤差對函數(shù)的影響

  在光學成像系統(tǒng)的設(shè)計中,由于涉及、制造和使用的過程中會出現(xiàn)相應(yīng)的誤差,繼而會降低傳遞函數(shù),從而會影響光電成像系統(tǒng)的使用性能。根據(jù)科學研究顯示,其影響性能的因素主要體現(xiàn)在以下幾個方面:

  2.1波像差對函數(shù)的影響

  在光學系統(tǒng)的設(shè)計中,波像差會對系統(tǒng)的分辨率產(chǎn)生較大的影響,而在系統(tǒng)的設(shè)計中,加工環(huán)境、設(shè)計和使用等變化均可以影響波像差的變化,從而會影響光電成像系統(tǒng)的使用性能。在光電系統(tǒng)的設(shè)計中,其下降因子與波像差之間的關(guān)系如公式1所示:

  在公式1中,Wmrs是系統(tǒng)的波像差,單位是波長,ATF(v)是函數(shù)的下降因子,表示空間頻率。當系統(tǒng)的Wmrs=0.05,0.07,0.1和0.125時,系統(tǒng)的下降因子會達到在最低值。因此,在設(shè)計師設(shè)計光學成像系統(tǒng)的過程中,需要對波像差和函數(shù)下降因子進行合理的分析,以便可以保證系統(tǒng)的使用性能[3]。

  2.2離焦對函數(shù)的影響

  在光學成像系統(tǒng)的設(shè)計中,需要對系統(tǒng)進行調(diào)焦,當調(diào)焦過程中出現(xiàn)誤差,對系統(tǒng)的函數(shù)會產(chǎn)生較大的影響。當離焦的彌散斑直徑是d的時候,離焦的函數(shù)如公式2所示:

  在公式2中,MTF(u)為離焦,當探測器像元的尺寸分別為10%d-d時,離焦函數(shù)的下降幅度越來越大。在設(shè)計師設(shè)計系統(tǒng)的過程中,為了保證系統(tǒng)的分散率,必須將探測器的像元尺寸控制在30%d以內(nèi),以便可以保證光電成像系統(tǒng)的使用效率。

  2.3像移對函數(shù)的影響

  在光電成像系統(tǒng)的使用過程中,在曝光時間內(nèi),像在像面內(nèi)會出現(xiàn)移動,從而會在一定程度上導致函數(shù)下降。像移主要包括線性異動、高頻隨機振動和正弦振動。當系統(tǒng)的線性位移數(shù)值為d時,系統(tǒng)函數(shù)如公式3所示:

  在公式3中,ud主要代表空間頻率,當系統(tǒng)探測器像元的尺寸分別為10%d、20%d、30%d、40%d、50%d和d時,像移的下降幅度會逐漸增大。

  在光電成像系統(tǒng)的設(shè)計過程中,光電的函數(shù)主要是由波像差、離焦和像移的乘積得到。對于光學遙感中的光電成像系統(tǒng),在設(shè)計的過程中,可以將空間頻率設(shè)置在0.5左右,在光電系統(tǒng)加工后,其函數(shù)應(yīng)該控制在0.2左右。而系統(tǒng)最終應(yīng)用的函數(shù)應(yīng)該控制在0.1左右[4]。因此,在光電成像系統(tǒng)的使用過程中,只有設(shè)計師根據(jù)實際使用要求來進行設(shè)計,才可以達到最佳的使用性能。

  3 系統(tǒng)的平均傳遞函數(shù)

  在光電成像系統(tǒng)中,光學傳遞函數(shù)在線性空間內(nèi)屬于不變的系統(tǒng),但是探測器取樣會不斷的發(fā)生變化。在系統(tǒng)的使用中,為了滿足系統(tǒng)的使用需求,設(shè)計師可以采用平均函數(shù)的方式來表示空間頻率的變化,以便可以更好的對光電成像系統(tǒng)的性能進行優(yōu)化。在光電成像系統(tǒng)的使用中,隨著系統(tǒng)sin函數(shù)和cos數(shù)值的不斷增加,系統(tǒng)的相位值會逐漸縮小,并且逐漸趨于標準理論值。在數(shù)據(jù)的使用過程中,規(guī)定相應(yīng)的相位等于0.因此,在光電成像系統(tǒng)的設(shè)計過程中,設(shè)計師應(yīng)該盡量的減少函數(shù)的數(shù)值,以便可以保證系統(tǒng)的分辨率。

  4 系統(tǒng)的信噪比

  在光電成像系統(tǒng)的使用過程中,信噪比是影響系統(tǒng)的重要指標。在信噪比的使用過程中,主要分為紅外系統(tǒng)信噪比和光系統(tǒng)信噪比。其分別如公式4和公式5所示。

  在公式4中,主要表示紅外系統(tǒng)的信噪比,其中F為孔徑數(shù),L為地面的輻射亮度。通過公式4,可以較好的對系統(tǒng)的數(shù)值進行計算。

  在公式5中,Se為信號電子數(shù),Ne為噪聲電子數(shù),De為暗信號輸出的電子數(shù)。在系統(tǒng)的設(shè)計中,設(shè)計師要根據(jù)實際情況來合理的選擇信噪比的數(shù)值。

  結(jié)語:光電成像系統(tǒng)的設(shè)計關(guān)系著其分辨率的大小,繼而會影響人們對光電系統(tǒng)的使用性能。希望通過本文的相關(guān)介紹,設(shè)計師在設(shè)計光電成像系統(tǒng)的過程中,可以合理的設(shè)計像移、離焦和波像差,以便可以更好的提升光電系統(tǒng)的使用性能。

  參考文獻:

  [1]石涵,都東,蘇志宏,等.醫(yī)用全身正電子發(fā)射成像探測系統(tǒng)技術(shù)的研發(fā)熱點和進展[J].生物醫(yī)學工程學雜志,2015,01(12):218-224.

  [2]張穎,牛燕雄,呂建明,等.星載光電成像系統(tǒng)建模與性能評估[J].激光與光電子學進展,2015,02(13):148-154.

  [3]喬健.艦載光電成像系統(tǒng)探測能力分析[J].光學精密工程,2013,10(10):2520-2526.

  [4]馬東璽,張文博,范大鵬.光電跟蹤伺服系統(tǒng)的輸入多采樣率滿意控制[J].紅外與激光工程,2011,12(12):2484-2491.

  
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